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產品簡介
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產品概述
偏振二次諧波掃描成像系統
標準二次諧波系統，采用共聚焦的激發和收集方式。該系統可以與用戶的飛秒激光器耦合，實現全電動化偏振分辨的微區二次諧波測試。
系統原理示意圖
*此圖僅作為原理示意，以實際為準
偏振二次諧波掃描成像系統典型數據圖
基本功能
二次諧波光譜測試；
二次諧波Mapping；
激發與收集光獨立控制的電動偏振掃描；
可適配低溫臺、電學樣品臺等；
可定制其它特色功能。
偏振二次諧波掃描成像系統應用場景
非線性光學材料與器件的非線性光學過程，及二維材料的晶體結構探測
二維材料的晶體對稱研究；
鐵電材料的電極化特性研究；
反鐵磁材料的自旋耦合特性研究。
非線性光子材料SHG / THG特性表征
鈮酸鋰納米顆粒或者薄膜的SHG產生；
二維材料（TMDs）材料的SHG產生；
貴金屬納米結構 / TMDs異質結的SHG產生調控等。
典型參數配置
激發光源： 飛秒激光器
空間分辨率： ＜ 1 mm
電動位移行程： 50 mm × 50 mm × 40 mm
掃描精度： ＜ 1 mm，步進最小 0.04 mm
電動位移行程： 50 mm × 50 mm × 40 mm
偏振控制： 電動
光路切換方式： 電動，軟件控制
物鏡組： 5X，10X，20X，50X，100X可見光物鏡；其它物鏡可定制
照明光源： 高顯色LED面光源
光譜采集： 光纖光譜儀； 臺式光柵光譜儀（可選）
軟件功能：移動視場，切換物鏡，對焦，框選掃描區域均可用鼠標直接在圖像顯示窗口操作；電動功率調整；自動光路模式切換；自動Mapping；自動化偏振Mapping；實時處理與顯示數據
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